<table id="hzz5a"></table>
<td id="hzz5a"></td>
該設備用于膜電極的外觀瑕疵檢測及2D尺寸測量，詳情如下：
邊 框 區：氣泡、劃傷、褶皺、波浪紋等（需具體評估）
反 應 區：質子膜穿孔/破損、催化劑層脫落等（需具體評估）
GDL破損、GDL斷裂等（需具體評估）
尺寸測量：產品總長寬尺寸測量、產品孔槽特征內徑尺寸測量等（需具體評估）
該設備采用2個高清相機相機
光柵尺觸發獲取圖像
世椿自研檢測系統，重復精度±0.02mm，超大數據存儲容量
主要工藝
膜電極的外觀瑕疵檢測機的設計旨在開發一款能夠對膜電極進行高精度瑕疵檢測的設備，匹配五合一半成品膜電極檢測及七合一成品膜電極檢測等應用場景。設備采用高精度高清相機進行掃描成像，世椿自研檢測系統。產品支持全自動/半自動/人工上下料。
<table id="hzz5a"></table>
<td id="hzz5a"></td>